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深圳市光电耦合器及其芯片工程技术中心组建项目(实验设备采购项目)

基本信息
项目名称 省份
业主单位 业主类型
总投资 建设年限
建设地点
审批机关 审批事项
审批代码 批准文号
审批时间 审批结果
建设内容


深圳市光电耦合器及其芯片工程技术中心组建项目(实验设备采购项目)
(招标编号:Z44030028CX000002001)
项目所在地区:广东省,深圳市,龙岗区
一、招标条件
本深圳市光电耦合器及其芯片工程技术中心组建项目(实验设备采购项目)已
由项目审批/核准/备案机关批准,项目资金来源为国有资金500万元;私有资金
200万元;境外资金0万元;自筹资金0万元;外国政府及企业投资0万元;其他
资金0,招标人为深圳市奥伦德元器件有限公司。本项目已具备招标条件,现招
标方式为公开招标。
二、项目概况和招标范围
规模:招标项目共计招标设备25台套,投标可以采用可单独投标单台设备
也可采用投标多台设备,本次为该项目一期招标工程。
范围:本招标项目划分为1个标段,本次招标为其中的:
(001)深圳市光电耦合器及其芯片工程中心组件项目实验设备;
三、投标人资格要求
(001深圳市光电耦合器及其芯片工程中心组件项目实验设备)的投标人资格能力
要求:境内法人单位,成立不少于3年,要有一定德履约能力,提供营业执照及
营收情况,最好原厂参与招投标;
本项目允许联合体投标。
四、招标文件的获取
获取时间:从2023年11月30日00时00分到2024年03月31日 00时00分
获取方式:邮件或者邮寄
五、投标文件的递交
递交截止时间:2024年04月01日00时00分
递交方式:liule@orient-opto.com电子邮件投递
六、开标时间及地点
开标时间:2024年04月01日 00时f00分


开标地点:深圳市龙岗区天安数码城4栋A座3楼
七、其他
1扫描电镜能谱 1 物质化学成分的定量分析
用于芯片和封测产品材料成分的确认
2 超声波分层扫描设备1
根据声波穿透不同介质所反馈的信号不同,拟合出两层物质结合处的图像
用于判断是否分层、空洞等不良
3 3D数码显微镜1高清显像、尺寸测量及拍照录影等功能
用于确认芯片的功能区大小、尺寸、引线框架、晶圆等各类高清图片及尺寸
4影像测量仪3影像测量仪具有2D尺寸测量的功能
用于项目光耦组件外观异常分析
5 EDX元素分析测试仪1
EDX元素分析测试仪可以根据不同元素特征X射线波长的不同来测定式样所含的
元素用于项目晶圆、支架金属表面的元素成份分析
6 IC激光开盖机1 IC激光开盖机具有材料开封,做芯片级分析功能
用于项目光耦失效原因分析
7
RoHS 2.0检测仪1 RoHS 2.0检测仪具有检测邻苯二甲酸二(2-
乙基己基)酯(DEHP)、邻苯二甲酸丁苄酯(BBP)、邻苯二甲酸二丁酯(DBP
)、邻苯二甲酸二异丁酯(DIBP)功能用于项目光耦塑封环氧树脂卤素测量
8 Tg点的TMA/DSC测试仪1
Tg点的TMA/DSC测试仪具有测量胶体和环氧的玻璃转化温度、熔融指数功能
用于项目光耦塑封环氧树脂玻璃转化温度测量
9 X-Ray无损检测仪1 X-
Ray无损检测仪具有在不解剖的情况下,探测元器件内部受损情况功能
用于项目光耦失效原因分析
10 多功能芯片测试仪1测试芯片性能,分析芯片缺陷
用于多种芯片性能的测试(数码转换、隔离驱动等)
11引线框架视觉检测机1引线框架外观、尺寸、缺陷全自动检测
用于光耦封测产品的检查、检验,缺陷分析
12 1500VP-P信号发生器及测试系统1


共模抑制比测试仪具有测试光耦电路中共模抑制比的功能
用于项目高速/驱动光耦高压共模抑制比测试分析
13 4A 高功率电性测试仪l 4A
高功率电性测试仪具有测试高功率型光耦的电性参数的功能
用于项目大电流IGBT驱动光耦测试分析
14电性测试仪2电性测试仪具有测试光耦电性参数的功能
用于项目晶体管光耦测试
15 友能探针台1 友能探针台具有点测芯片的功能用于项目IC芯片测试分析
16 光电耦合器自动老化智能测试系统1
光电耦合器自动老化智能测试系统可以对光耦进行通电老化,具有开关试验、
脉冲试验、定时和实时数据监控的功能
实验室老化,提高精度和效率,用于项目光耦信赖性评估老化实验
17车规电压传感测试仪2
车规电压传感测试仪具有测试光隔离放大器光耦电性参数功能
用于项目光隔离放大器开发分析测试
18 支架硬度测试仪1支架硬度测试仪具有测量支架硬度功能
用于项目支架导入硬度评估分析
19 图像尺寸测量仪/测量投影仪1
与原“序号5(超声波分层扫描设备)类似,测量芯片级尺寸和结构分析,提高
精度用于项目芯片设计开发研究内容
20 温度循环测试设备1温度循环测试设备可以进行温度循环或恒温恒湿试验
用于项目实验光耦和芯片的高低温循坏储存和高低温老化测试
21 低温存储实验设备1低温存储实验设备可以进行低温存储试验
用于项目实验芯片的储存和低温老化测试
22 自动波峰焊设备1
自动波峰焊设备可使液态锡生成波浪,从而进行可焊锡验证
用于项目光耦材料波峰焊实验信赖性评估
23 VIrtuoso IC设计仿真软件1 VIrtuoso
IC设计仿真软件具有从单个原理图驱动IC和封装的仿真以及布局验证的功能


设计IC类,用于项目驱动IC芯片设计及封装的仿真
24 3D/CAD制图仿真软件1
3D/CAD制图仿真软件能够流程的绘制工程图,设计光电耦合器外形、引线框架
图、芯片平面及立体图形用于项目光电耦合器和芯片的开发设计
25 HAST非饱和高压加速老化试验机1
高加速老化试验机能够完成不饱和压力测试,对于在24小时或更短时间内达到
吸收平衡的部件,96小时在130°C/85%RH相当于在85°下至少1000小时。
用于光耦可靠性验证及形式实验
八、监督部门
本招标项目的监督部门为无。
九、联系方式
招标人:深圳市奥伦德元器件有限公司
地 址:深圳市龙岗区天安数码城4栋A座3楼
联系人:登录即可免费查看
电 话:登录即可免费查看
电子邮件:liule@orient-opto.com
招标代理机构:
地 址:
联系人:
电 话:
电子邮件:
招标人或其招标代理机构主要负责人(项目负责人):Ω·\乙)> (签名)
招标人或其招标代理机构. (盖章)


放大倍率:15to30,000×(数码连续放大:2×,4×) 扫描电 镜能谱设定观察条件:5kV/15kV/EDX 观察模式:标准模式、减轻电荷模式 图片模式:标准、阴影像1、阴影像2、凹凸像 样品可移动范围:X:土17.5mm,Y:土17.5mm 最大样品尺寸:70mm直径 最大样品厚高度:50mm 电子枪:预对中灯丝 检测器:高灵敏度4分割半导体背射电子探测器3 自动图像调整功能:自动启动,自动对焦,自动辉度调 整图像存储像素:640×480像素,1,280×960像素 图像数据保存:PC带硬盘及其他记录媒体 图像格式:BMP,TIFF,JPEG 数据显示:标尺,倍率,日期,时间,图像编号,D*, 输入注解,观察条件,观察模式,图像模式 涡轮分子泵:30L/sX×1台, 隔膜泵(Diaphragmpump):1m3/h×1台
超声波 分层扫 描设备辅助操作功能:电子束旋转,预设倍率(2级),电位移范围 (±50μm@D*=4.5mm,观察条件:通常) 测试探头:15Mhz、75Mhz 有效扫描范围:260mm*220mm*50mm 最大扫描速度:30mm/s 图像推荐分辨率:1-4000μm 定位精度:X/Y≤±1um,Z≤±10μm重复定位精度:X/Y≤ ±0.01mm,Z≤±0.02mm
3D数码 显微镜光学倍率:0.7X-0.5X、电子倍率:25-180倍 工作距离:约100mm 视野范围:2.5mm-20mm、升降范围:280mm、底座:320*260 机台底坐:高精度花岗石及立柱
影像测 量仪线性精度:(3+L/150)μm 计算测量功能:2.5D精密测量系统软 件 解析力:0.001mm重复精度:0.003mmCCD SONY芯片1/3彩色CCD 目镜:0.5X(可选配1X,2x)物镜:0.7X~4.5X 放大倍数20X~ 120X实际工作行程:200*100*180mm
EDX元素 分析测 试仪根据特征x射线的波长,定性与半定量分析元素周期表中B- U的元 素,EDS可提供样品表面之微区定性或半定量之成份元素分析 ,以 及特定区域之point、line scan、mapping分析 检测极限:0.1%, 只能做半定量分析,精度一般在1%到5%,深度一般为1~5微米



小时输 开封深度: 开封速度:≥ IC激光 开盖机 50mm 轴:Z 21”显 示器)软件系统:DECAP专业版支持样品尺寸:≤30mm激光类型:红外激光激光波长:1064nm 功率:20W、30W、50W(针 对比较厚的封装层,提高开封效率)激光寿命:≥80000 出功率范围:1%~100% 重复频率:20KHz~100020KHz(可调)脉 冲宽度:1ns-1000ns(可调)光束质量:M²≤1.2 0.01mm~2mm最大深度:3mm(选配50W激光器) 8000mm/s定位系统像素:1200万像素 观测系统像素:1200万 像素彩色相机2000万像素彩色相机最大扫描范围:50mmX 实时操作模式:同轴和共XY轴行程 X300mm,Y200mm扩大激光加 工范围及显微视觉,无损开封PCBA上的不同类型芯片Z 轴自动调焦计算机IPC810工控机(i5/8G/240G固态/A0C
RoHS 2.0检测 仪烟尘过 滤器:1.8kPa,0.3u的颗粒定位精度:土20um 设备安全等级: ClassI(互锁)激光防护:防四类激光辐射防护罩 波长范围:190-600nm波长示值误差:


空间分辨率:1μm(用JIMAchart检测)可搭载尺寸:470 mm Y: X射线输出 X- Ray无损 检测仪 mm μSv/h 以下 配合 任何形式 FET、 二极管×420mm×100mm最大5kg透视检查行程:X:460mm 410mmZ:100mm旋转±180°倾斜:60° CT拍摄范围:X:350 mmY:350mm倾斜角度(CT拍摄角度):45°或60° 功率:最大管电压160kV最大管电流100μA 额定输出功率16 W检出器:平板检出器 透视视野(碳纤维板上):(纵)0.75mm ×(横)1.3mm²~(纵)21mm×(横)38mm CT视野(碳纤维 板上):3mm~30mm(45°倾斜角度时)/3mm~14 (60°倾斜角度时)电源:AC200V土10%1.5 kVA(接地电阻100 Q以下)质量:约2450kg 环境条件(运行时):环境温度:15℃~ 30℃湿度:35%~80%(不结露)辐射泄漏剂量:1 电压/电流:1500V/20A,可控硅选件,电流选件最高测试20A
多功能 芯片测 试仪 4,IH、探针台:通过GPIB接口可以获取Map图通道:单通道 计数必须准确适用测试的器件名称:二极管、三极管、MOS- IGBT(适合分立器件的规格)、光电耦合器。具体参数有: (IR、VZ、VF)、MOS- FET (ISGS、IDSS、BVDSS、DIVID、VP、VTH、 RDON、VF、VFSD)、三极管(BVCBO、BVCEO、BVEB、ICBO、I CEO、IEB、 ICES、DIVID、HFE、VFBE、VCESAT、VBESAT)、IGBT(IGSS 、VCESAT、 VGESAT等)、可控硅(VDRM、VRRM、IDRM、IRRM、IGT1,2,3, ILATCH1,2,3,4等)、光电耦合器(FIH、FIC、FVCESAT等)



、划 测 引线框 封装形式) 架视觉 检测机 记以便于后段剔除 寸会有差异) 艺分析 输入功率视觉检测系统包含正面两面检测,可以检测框架上本体裂纹 伤、破损、框架异物等不良 视觉系统外观检测精度可以达到0.2mm 机构可以通过调节kit位置以实现SMA/B/C自由切换(也可以检 机构可实现自动上下料,上料机构可一次性装填5个料 盒,下料机构可收纳5个料盒 机构可以通过激光将不良品打印标 机构运行速度可达到至少8片/分(根据料片尺 视觉系统自动保存生产数据并生成报表,以便于工 最大电压&电流1.5kV/20.0A测试通道最大2个通道
1500VP P信号发 生器及 测试系 统AC200-240V;50Hz/60Hz;250VA外观尺寸Tester: 500(w)x670 (1)x250(h)mmHeadBox: 65(w)x272(1)x187(h)mm偏置: Bias Circuit 3 Circuit (3 Digital) (D/A Converter) Bias Loop Standard High Voltage Source 1 Circuit ( ±1.5kV/50ma)Voltage and Current Source 3Circuit(36V/20.0A)测量部分: Measure Circuit 1 Circuit (4 Digital) (A/D converter) Measure Circuit Standard High Voltage Circuit 1 Circuit (0.000V~1.5kv)Low Voltage Circuit 1 Circuit (00.00mV36.00V) Standard Current Circuit 1 Circuit (0.000mA20.0A) Small Current Circuit 1 Circuit (000.0PA~999.9uA) Measure Circuit Manage using item name Maker Manage Max 200 Items User Manage Max 200 Items 继 电器动作时间3ms,5ms可以选择(默认为,3ms)测试程序 测量项目 最大200条分类项目最大200条接口规格输入信号 (Handler To



Tester):包括SOT,总共6个信号
L 4A 高功率 电性测 试仪主要用于测试高速数字光耦器件。配合自动机台测试光耦器件的 DC 2. 电气特性2.0.1uA至4A全域段加电,均能达到高精度高速测 3.试3.高性能的通电保护回路设计,确保了精准的加电值和加电时 4.间4.采用专业级SMU加电回路,准确测试待测物的各种电性参 5. OPT02817C测试机可测试之参数项目,如输入端LED
电性测 试仪之顺向电压(VF), 逆向漏电流(IR),逆向电压(VBR),光电晶体之饱合电压 (VCES), 崩溃电压(VCEO),漏电流(ICEO),B、E脚之压降 (VBE),EC脚之压 降(VEC)及输出端CE脚所并联之DIODEVF 值,反应上升时间(tr), 下降时间 (tf),和电流转换比之对称性(SYMMETEY)电流转换比(CTR) 等项目。精度要求:±1%



1.适用于36英寸芯片。 220mm,Z轴5mm 10. CCD 友能探 针台 11. 试、自定义图形测试。2.2.1.5毫米*1.5毫米步距芯片连续测试, Z轴升降0.3毫米,UPH为20K 3.工作行程:X轴180mm,Y轴 4.X轴、Y轴定位精度:


图像尺 寸测量 仪/ 测量投 影仪机台底坐:高精度花岗石及立柱线性精度: (3+L/150)μm 解析力 :0.001mm重复精度:0.003mm 实际工作行程:200*100*180mm 最高温度:150℃、最低温度:-40℃、湿度范围:20-
98%RH、升温时间: 温度循 环测试 设备20℃→150℃≤30min(空载)、降温时间:≤60min、温度波 动度:±0.5℃、 温度偏差:土2℃、湿度偏差:土2/- 3%RH(RH>75%RH),±5.0%RH(湿



3. VIrtuos电路仿真:Virtuoso提供了多种电路仿真工具,包括Spectre和 1、 2、HSPICE等。这些工具用于分析模拟电路的性能,包括模拟和混合信 号 电 路 2、集成开发环境(IDE):Virtuoso提供一个集成开发环境, 4、让设计工程师可以在一个统一的界面中进行电路设计、仿真、验证 5、和布局3、模拟和数字混合设计:Virtuoso支持模拟和数字混合电 6、路的设计和仿真,适用于复杂的系统级设计4、高级模拟功能: 7、Virtuoso支持各种高级模拟功能,如噪声分析、敏感度分析、蒙特 8、卡洛仿真等,以帮助工程师优化电路设计5、定制设计:软件允许 9、用户进行自定义设计,包括自定义电路元件和功能6、支持不同工 10、”艺节点:Virtuoso支持多个工艺节点,使工程师能够选择适合 其应 11、 用 7、布局和版图设计:Virtuoso允许用户进行电路布局和 8、电源分析和功耗优 耗性 14、 15、 17、 能,
0 IC设计 仿真软 件的 工 艺 12、版图设计,以确保电路满足性能和制造要求 13、化:软件提供功耗分析工具,以帮助设计工程师优化电路的 能 9、验证和验证:Virtuoso支持电路验证,包括时序分析、信号 完整性分析和功能验证 10、与其他工具的集成:它通常与其他工 16、具(如Virtuoso Analog Design Environment和Virtuoso Schemati Editor)集成,以实现全面的电路设计和仿真流程11、 18、文档和报告生成:Virtuoso通常提供生成设计文档和报告的项 19、以便于项目团队之间的沟通和合作
3D/CAD 制图仿 真软件1、三维建模:中望CAD3D允许用户创建和编辑三维模型,包括物体、 零件和装配体。用户可以绘制、拉伸、旋转和修改三维物体 以构建 复杂的模型 2、零件设计:软件支持零件设计,用户可以创建各种 零部件,并进行参数化设计以便随后的修改和重用 3、装配体设计: 用户可以将不同零部件装配成整体产品,进行装配体设计, 并模拟 零部件之间的相互作用4、材料和纹理:中望CAD 3D支持将材料和 纹理应用于模型,以实现更真实的视觉效果。用户可以指定 材料的 物理特性以进行仿真和分析 5、染和可视化:软件提供染功能, 可以创建高质量的染图像和实时可视化效果,以展示设计 的外观 6、动态仿真:中望CAD 3D允许用户进行动态仿真,模拟装配体 中各个部件的运动和互动



多种CAD文件格式,以便与其他CAD软件和团队协作 8、参数化建 ,从而 3D通常具有友 各个版 本和变更模:用户可以创建参数化模型,使得可以轻松修改设计参数 减少重复工作9、图形用户界面(GUI):中望CAD 好的用户界面,易于学习和使用 10、工程数据管理:软件通常提 供工程数据管理功能,以协助用户管理和跟踪设计项目中的
HAST非 饱和高 压加速 老化试 验机1.温度范围:105℃→+150℃ 2.温度波动度:≤土0.5℃ 3.温度均匀度:≤±2.0℃ 4.湿度范围:75%~100%R.H 5.湿度波动度:≤土2.5%R.H 6.湿度均匀度:≤±3.0%R.H 7.压力范围:0.2~3kg/cm3(0.05~0.3MPa) (箱内压力) 8.升温时间:常温→+132℃约50min 1. 9.两个带点偏压端子


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