-
00单价(元):1800.00规格型号(或服务要求):15-831主要标的名称:高精度源测量单元数量:2.00单价(元):104000.00规格型号(或服务要求)
-
000.00元96.50四、主要标的信息采购包2(高精度源测量单元SMU等设备采购):货物类(广东艾维特科技有限公司)品目号品目编号及品
-
SCS技术参数主机一个。配置模块数量如下:1.高功率源测量单元1个1.1电流最大值为±1A,在1pA电流量程时,分辨率为10aA
-
工业和信息化部电子第五研究所大功率器件通用电学性能测试系统(电流波形分析模块、电源测量单元、皮安级电流测试单元)采购项目-国际招标澄清或变更公告(1)澄清或变更简要说明
-
00工业本采购包不接受联合体投标合同履行期限:自合同签订之日起30日采购包2(高精度源测量单元SMU等设备采购):采购包预算金额:750,000.00元采购包最高限价
-
序号设备名称数量单位是否采购进口产品1电化学工作站1台否2紫外可见光光度计1台否3高精密源测量单元1台否4高性能台式计算机1台否5偏振光工业相机1台否6多模态融合感知与
-
序号设备名称数量单位是否采购进口产品1电化学工作站1台否2紫外可见光光度计1台否3高精密源测量单元1台否4高性能台式计算机1台否5偏振光工业相机1台否6多模态融合感知与
-
项目名称:福建理工大学光学表征测试平台设备采购三、采购结果采购包3(高精度源测量单元SMU等设备采购):废标理由:广州誉立电子科技有限公司的电子投标文件中
-
CB105322024000021成交总额:167000申购主题:源测量单元(SMU)采购送货时间:合同签订后60天内到货采购单位:湖南大学安装要求
-
00工业本采购包不接受联合体投标合同履行期限:自合同签订之日起90日采购包3(高精度源测量单元SMU等设备采购):采购包预算金额:750,000.00元采购包最高限价
-
10:19截止时间:2024-03-2117:20:10基本信息:申购主题:源测量单元(SMU)采购报价要求:进口免税发票类型:增值税普通发票付款方式
-
隔振平台支撑腿4MEMS扫描镜1红外光子探测器1成像光电探测器1拉曼光学显微镜1源测量单元2纳伏表1微型探针冷热台1激光光源1光谱仪1可见光探测器1近红外探测器14
-
1550nm,1650nm,出纤功率≥5mW,功率可调;4.源测量单元:电压输出范围:±30V,电流测量范围:±20mA,电流测量分辨率≤1fA;5
-
光电流采样率≥10MS/s,垂直分辨率≥16bit;31、源测量单元1:电压输出范围≥±30V,电流测量范围≥±20mA,电流测量分辨率≤1fA;32
-
6GHz8核PXI控制器,9个扩展槽,系统总带宽24GB/s,24通道源测量单元,10pA的电流分辨率,提供配套阵列测试软件质保期满足1年质保售后要求满足质保期内
-
6GHz8核PXI控制器,9个扩展槽,系统总带宽24GB/s,24通道源测量单元,10pA的电流分辨率,提供配套阵列测试软件质保期1年质保售后要求质保期内
-
6GHz8核PXI控制器,9个扩展槽,系统总带宽24GB/s,24通道源测量单元,10pA的电流分辨率,提供配套阵列测试软件质保期1年质保售后要求质保期内
-
询价意向询价物品采购总量目标单价(元)所属行业其他备注图片pxi电源测量单元板卡模块面议面议其他专用仪器仪表----采购要求收货地:湖南长沙采购类型:全新发票要求
-
Pro模块化机箱5槽PXI总线机箱;1个高精度SMU(源测量单元),0.1fA灵敏度(30fA测量精度,50us脉冲,直流1A,脉冲3A
-
单粒子效应测试用源测量单元采购结果公告单粒子效应测试用源测量单元采购项目经评审采购结果已确定/成交候选人公示期已经结束,现将中选结果公告如下:序号项目编号项目名称中选人1CIAE
-
单粒子效应测试用源测量单元-询价采购公告中国原子能科学研究院-单粒子效应测试用源测量单元-询价采购公告一、项目概况项目名称
-
探针(1)超低漏电探针;▲(2)针尖直径标配10um,镀金铍铜探针2盒(共20根);6、源测量单元2套;(1)最大电流源/测量量程:1A;(2)最大电压源/测量量程
-
改变器件参数、测量数据保存;需模拟的测试仪器包括:半导体参数分析仪,包含源测量单元(SMU)和电容电压单元(LCR);需支持器件测量仪器端口相关线缆的实操连接;需模拟的测试环境包括
-
改变器件参数、测量数据保存;需模拟的测试仪器包括:半导体参数分析仪,包含源测量单元(SMU)和电容电压单元(LCR);需支持器件测量仪器端口相关线缆的实操连接;需模拟的测试环境包括
-
提供参数分析仪与测试平台的连接电缆和接头。9、主机和配套单元、模块需组合为一套整机使用。二、中功率源测量单元:3个。1、功率:2.1W。2、电流测量量程:±100nA~±100mA
-
主要标的信息序号供应商名称货物名称货物品牌货物型号货物数量货物单价(元)1南京诺谱瑞精密科技有限公司高精度源测量单元//1台189000五、评审专家(单一来源采购人员)名单:尹向军、陈晓玲
-
数量及主要性能参数要求半导体噪声参数分析仪1套(一)主要性能指标要求1系统具备三个高精度源测量单元(SMU)单元*1.1三个SMU的电流测量分辨率最高到0
-
0118块12PXI机箱NI/784782-01个13源测量单元NI/781742-01块14万用表板卡NI/780011
-
最大脉冲功率不低于400W,脉冲模式下的最短脉冲宽度为50μs;★3.4源测量单元SMU具备IV-T测试模式,最快采样率550ns/点,数据存储点不低于10万个点;4
-
已通过云采通高校采购联盟发布关于(项目名称:Keithley源测量单元,项目编号:JJ230365)采购公告。至2023年05月26日
-
本项目并不属于政府采购项目。采购需求:半导体参数测试系统一套,系统具备4个高精度源测量单元(SMU)单元,半导体参数分析仪主机含嵌入式PC:Windows操作系统
-
主要标的信息序号供应商名称货物名称货物品牌货物型号货物数量货物单价(元)1上海众执芯信息科技有限公司多通道源测量单元;机箱;矩阵切换卡;等NI;NI;NI;等PXIe
-
视化显示;可绘制常用的数据图表重要否23配置清单:1.分析仪主机1台;2.高功率源测量单元模块1块;3.远程前端放大器模块1块;4.高分辨率多频率C-V单元1个;5
-
可以外接显示器。(二)基本配置要求:系统配置:1、一台主机2、两个源测量单元3、两个放大单元二、对供应商资格要求(供应商资格条件):(一)供应商的资格要求
-
18662729762六、合同主要信息主要标的名称:半导体参数分析仪;源测量单元;电容电压测量单元规格型号(或服务要求):Tektronix4200A-SCS;4211
-
最大:200V(量程)/200μV/3mV(每个模块同时满足)2,前置放大单元(直流源测量单元)★2.1电流源输出电流/分辨率:最小:1pA(量程)/1
-
9012)(一)概伦电子Primarius(型号:FS-Pro)1.系统具备4个高精度源测量单元(SMU)单元,技术指标:★1.1数量为2个;2个SMU的电流测量分辨率最高到0
-
电子元器件,可靠性/测试性/维修性一、项目名称设备名称:20221122询价-高精度源测量单元二、项目内容1.明细:数量:1要求:200V/1A/20W,六位半
-
7.模拟的测试仪器:半导体参数分析仪,包含源测量单元(SMU)和电容电压单元(CVU)。8.支持器件测量仪器端口相关线缆的实操连接
-
7.模拟的测试仪器:半导体参数分析仪,包含源测量单元(SMU)和电容电压单元(CVU)。8.支持器件测量仪器端口相关线缆的实操连接
-
7.模拟的测试仪器:半导体参数分析仪,包含源测量单元(SMU)和电容电压单元(CVU)。8.支持器件测量仪器端口相关线缆的实操连接
-
7.模拟的测试仪器:半导体参数分析仪,包含源测量单元(SMU)和电容电压单元(CVU)。8.支持器件测量仪器端口相关线缆的实操连接
-
显示器;Windows操作系统;任意一个SMU,CVU均只占一个插槽;2.高功率源测量单元:电压源输出电压/分辨率:200mV(量程)/5μV
-
分标项号采购内容数量A1波形发生器1套2波形发生器1套3精密LCR表1台4逻辑分析仪1台5矢量网络分析仪1台B1电源测量单元1台2直流电子负载1台3直流电子负载1台4声学振动测试分析系统1台C1
-
502否1503否87.204否38.3简要概述(1)1.系统具备4个高精度源测量单元(SMU)单元,技术指标:#1.1数量为4个;4个SMU的电流测量分辨
-
分标项号采购内容数量A1波形发生器1套2波形发生器1套3精密LCR表1台4逻辑分析仪1台5矢量网络分析仪1台B1电源测量单元1台2直流电子负载1台3直流电子负载1台4声学振动测试分析系统1台C1
-
现将子包1、3、4评标结果公布如下:一、采购内容:子包1:混合域示波器1套,精密型电源测量单元1套,研究型正置金相显微镜1台。子包3:数据采集装置58个,虚拟仪器开发软件1套
-
子包3:飞秒光学参量放大器1套。子包5:混合信号示波器1台、频谱分析仪1台、源测量单元1台、函数/波形发生器1台。二、中标候选人名单:子包1:第一中标候选人:投标人名称
-
现邀请合格投标人参加投标。1、招标条件:(1)项目概况:子包1:混合域示波器1套,精密型电源测量单元1套,研究型正置金相显微镜1台。子包3:数据采集装置58个,虚拟仪器开发软件1套
-
现将子包1、2、4评标结果公布如下:一、采购内容:子包1:混合域示波器1套,精密型电源测量单元1套,研究型正置金相显微镜1台。子包2:紫外-可见-红外光谱分析系统1套